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怎样测量IC的好坏?
如果显示的值接近设备的标称电压，说明电源IC正常，否则可能存在故障。除了直接测量电压，还可以通过测量电源IC的工作温度来判断其好坏。使用红外温度计可以非接触地测量IC的温度。
如果坏的话最常见的也是击穿损坏，你可以用万用表测量一下芯片的供电端对地的电阻或电压，一般如果在几十欧姆之内或供电电压比正常值低，大部分可以视为击穿损坏了，可以断开供电端，单独测量一下供电是否正常。
可以断开电源端子，单独测量电源是否正常。如果测得的电阻很大，很可能是其他端口损坏。也可以逐个测量其他端口。看看是否有端口对地短路。检测IC有专门的仪器，万用表没有这个能力。
IC集成电路的好坏判别方法 不在路检测 这种方法是在ic未焊入电路时进行的，一般情况下可用万用表测量各引脚对应于接地引脚之间的正、反向电阻值，并和完好的ic进行较。
如何用万用表检测IC好坏?
离线检测：测出IC芯片各引脚对地之间的正，反电阻值。以此与好的IC芯片进行比较，从而找到故障点。在线检测：要断开待测电路板上的电源，万能表内部电压不得大于6V ，测量时，要注意外围的影响。如与IC芯片相连的电位器等。
检查电源：用万用表直接测量VCC和GND电平，以满足要求。如果VCC与5V或3V的偏差过大，请检查7805或其他稳压器和滤波器电路的输出。检查晶体振荡器：您可以更改晶体数量以重试。
方法一：离线检测。测出IC芯片各引脚对地之间的正、反电阻值，与好的IC芯片进行比较，找到故障点。方法二：交流工作电压测试法。用带有dB档的万能表，对IC进行交流电压近似值的测量。
将万用表设置为测试电阻的档位，将一个探针接到芯片的引脚上，另一个探针依次接触其他引脚，观察万用表显示的电阻值是否正常。如果有任何一个引脚的电阻值异常，那么这个芯片可能存在损坏。使用万用表测试芯片的电压。
如果坏的话最常见的也是击穿损坏，你可以用万用表测量一下芯片的供电端对地的电阻或电压，一般如果在几十欧姆之内或供电电压比正常值低，大部分可以视为击穿损坏了，可以断开供电端，单独测量一下供电是否正常。
ic测试是怎么回事?
1、ATE(Auto Test Equipment) 在测试工厂完成，大致是给芯片的输入管道施加所需的激励信号，同时监测芯片的输出管脚，看其输出信号是否是预期的值。有特定的测试平台。
2、IC测试业是集成电路产业中一个重要组成部分，从产品设计开始至完成加工全过程，提供给客户的产品是否合格就是通过测试完成的。随着集成电路产业分工日益明晰，集成电路测试作为设计、制造和封装的有力补充，推动了产业的迅速发展。
3、没有区别。ic测试和芯片测试都是普通的测试，因此没有区别，芯片是是半导体元件产品的统称，将电路制造在半导体。
4、明确离线检测：测出IC芯片各引脚对地之间的正，反电阻值。以此与好的IC芯片进行比较，从而找到故障点。在线检测：要断开待测电路板上的电源，万能表内部电压不得大于6V ，测量时，要注意外围的影响。
5、测试基础理论 。测试基础理论包括需求分析、测试计划、用例设计、测试执行等方面。体系结构 。体系结构领域的经典书籍是计算机体系结构领域的经典书籍，强调软硬件协同设计及其对性能的影响，对数字 IC 测试工程师也有很大帮助。
ic不良率接收标准国家标准
首先，不良率的标准应该根据电路板的应用环境来决定。例如，对于一些高精度仪器、医疗设备或者军事装备，其对于电路板品质的要求非常高，通常将不良率设置在极低的水平，甚至可以要求零缺陷。
来料检验是对供应商提供的原材料进行质量检测，以确保其符合客户要求和标准。在来料检验中，如果发现电子元器件存在1%的不良率，则需要根据具体情况进行判断。首先需要了解该不良率是否超出了客户或行业标准规定的接受范围。
不良率一般控制在5%以内属于正常，银监局没有具体的不良率规定，只有规定坏账准备计提时有5%这个规定。但是实际中根据《巴塞尔协议》不超过15%的规定，各行有各行的预期标准，15%是上限。
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